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8寸毫米波探针台T-200mmW
支持dc~1.1THz太赫兹信号测试;
用于器件电学、光-电参数验证;卡盘尺寸、功能、形状可定制;
可支持多种光源耦合(垂直、水平、倾斜任意角度、背面耦合等);
样品台X-Y位移范围:8英寸*8英寸,或选配25mm*25mm(精细微调);
高清解析,可升降金相显微镜;
可升级支持高温、低温功能(带微腔结构);
     
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