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射频探针台应用于上海微系统所微器件参数测试
2019.12.06

对于未封装的器件及不便于引线的器件,由探针台系统搭配网络分析仪,进行器件的射频参数测试。当前这样的应用变得越来越广泛,测试频率也在不断提高。公司现有探针台系列产品,搭配相应的仪器可进行从微波到毫米波段参数测试;由专业的工程师进行技术指导,帮助客户实现稳定,精确的测量!

中国科学院上海微系统与信息技术研究所原名中国科学院上海冶金研究所,前身是成立于1928年的国立中央研究院工程研究所,是我国最早的工学研究机构之一。新中国成立后隶属中国科学院,曾命名中国科学院工学实验馆、中国科学院冶金陶瓷研究所。2001年8月,根据学科领域和科研目标的调整,更名为中国科学院上海微系统与信息技术研究所,简称上海微系统所。

测试现场图1

测试现场图2

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