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首页 > 产品中心 > 精密探针台 > 多功能光电探针台G-150     多功能光电探针台G-150 用于器件，芯片或MEMS等器件光电学性能测试。 多种应用模式：支持垂直角度、水平角度、倾斜等不同角度的耦合/接收； 仪器搭配：激光源、光功率计、光谱仪、精密电源等。 特点优势：满足光电芯片（光电转换器、Micro LED/VCSEL等测试） 高度集成化，高稳定性！   上一个 返回 下一个 规格参数： PDF手册下载 综合资料下载 返回