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8寸高/低温探针台T-200HC
用于1~8寸晶圆,批次小器件,单个芯片或MEMS等器件电学性能测试;
应用场景:I/V曲线测试,C/V测试,射频S参数测试等;
温度范围:-60℃/-55℃至150℃/200℃/300℃可选;
支持制冷机、液氮;两者兼容(液氮采用PID系统控制,更节省用量);
独特的低温技术,防止结冰现象产生;
用于实验室芯片验证,失效分析,产线射频芯片S参数测试等。
     
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