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首页 > 产品中心 > 精密探针台 > 小型探针台P-100     小型探针台P-100 用于4寸晶圆，器件，芯片或MEMS等器件电学性能测试。 应用场景：I/V曲线测试，C/V测试，射频S参数测试等； 仪器搭配：数字源表、半导体参数分析仪、LCR数字电桥、网络分析仪等。 特点优势：整个探针台系统占用空间小，操作灵活，简单易用。能满足用 户对产品的苛刻测试要求，是小型实验室，研发的不错选择！   上一个 返回 下一个 规格参数： PDF手册下载 综合资料下载 返回