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首页 > 产品中心 > 精密探针台 > 6寸高温探针台T-150H     6寸高温探针台T-150H 用于1~6寸晶圆，批次小器件，单个芯片或MEMS等器件电学性能测试。 应用场景：I/V曲线测试，C/V测试，射频S参数测试等； 仪器搭配：数字源表、半导体参数分析仪、LCR数字电桥、网络分析仪等。 特点优势：高温验证，温度从常温~200℃/300℃/400℃/500℃。 高清解析，微观放大倍率20X~50X/100X/200X/500X/1000X可选 用于实验室芯片验证，失效分析，产线射频芯片S参数测试等。 上一个 返回 下一个 规格参数： PDF手册下载 综合资料下载 返回