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首页 > 产品中心 > 精密探针台 > 8寸综合型探针台T-200、科研、生产、旗舰型探针台     8寸综合型探针台T-200 支持dc~110GHz射频芯片测试；也可用于常规I/V曲线测试； 可用于产线芯片测试，较常规探针台测试效率提升5~7倍。 搭载多功能Chuck；支持单芯片，整晶圆等方式测试。 卡盘自锁功能（独创）， 扎针时卡盘自行锁定（可选） 可升级高温测试功能；高温：150℃/200℃/300℃（可选） 高清解析，搭载同轴光显微镜，倍率8~400X，支持升级； 高度稳定性，高效率，多功能，易用性，无损测试等特点完美结合。 上一个 返回 下一个 规格参数： PDF手册下载 综合资料下载 返回