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8寸高端气浮探针台T-200G
用于1~8寸晶圆,批次小器件,单个芯片或MEMS等器件电学性能测试。
应用场景:I/V曲线测试,C/V测试,射频S参数测试等;
特点优势:高稳定性,易用性。采用Air Bearing Stage技术增强功能。
用于实验室芯片验证,失效分析,产线射频芯片S参数测试等。
仪器搭配:数字源表、半导体参数分析仪、LCR数字电桥、网络分析仪等。
可升级高温测试功能;
     
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