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专业12英寸自动探针台T-3000
用于12"、8"、6"、4"、2"的整晶圆测试;或矩形区域内芯片测试;
进行I-V、C-V、光信号、RF射频、1/f噪声特性分析,大功率晶圆测试等;
兼容丰富仪表:数字源表、网分、半导体参数分析仪、高压测试仪等;
可加装高级的硬件通信与测试平台软件,轻松集成所需的仪器仪表。
可加载温控系统,满足在特定环境下的特性参数测试。
用于实验室芯片验证,研究、产线上批量芯片测试等。
     
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