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| 8寸综合型探针台T-200Pro | 8寸高/低温探针台T-200HC | 12寸大型综合探针台T-300 | ||||||||||||||||||||
| 支持dc~110GHz射频芯片测试；可用于产线芯片测试，较常规探针台测试效率提升5~7倍。支持单芯片，整晶圆等方式测试。 | 支持1~8英寸晶圆测试、支持变温设置、支持制冷机&液氮制冷 | 支持12英寸晶圆测试、支持大型PCB测试 | ||||||||||||||||||||
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| 真空探针台T-CV4Mini | 真空探针台T-CV4 | 真空探针台T-CV6 | ||||||||||||||||||||
| 高/低温/真空探针台，二维材料测试、光电材料测试 | 高/低温/高真空探针台，低维材料测试/器件特征曲线测试 | 高/低温/高真空探针台，低维材料测试/器件特征曲线测试 | ||||||||||||||||||||
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| 专业8英寸自动探针台T-2000 | 专业12英寸自动探针台T-3000 | |||||||||||||||||||||
| 用于8"、6"、4"、2"的Si/GaN/SiC等晶圆测试；进行I-V、C-V、光信号、RF射频、1/f噪声等特性分析，设备功能丰富； | 用于12"、8"、6"、4"、2"的Si/GaN/SiC等晶圆测试；进行I-V、C-V、光信号、RF射频、1/f噪声等特性分析，设备功能丰富； | |||||||||||||||||||||
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